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Leica Planplattenmikrometer GPM3

Artikelnummer 201530010
Ideale Voraussetzungen zur Verwendung des NA2 für Präzisionsnivellements und Kontrollmessungen
  • Für NA- und NA2-Passinstrumente Nivelliergeräte.
HerstellerLeica
Preispro Stück(s)2.000,00Zzgl. 21% MwSt. *
Menge
Die hohe Einspielgenauigkeit der Automatik von etwa ±0,3" einer Ziellinienhorizontierung von etwa ±0,01 mm/10 m entsprechend – schafft zusammen mit dem aufsetzbaren Planplattenmikrometer GPM3 und dem 40fach-Okular (zusätzlicheAusstattungen) ideale Voraussetzungen zur Verwendung des NA2 für Präzisionsnivellements und Kontrollmessungen. Der Mikrometertrieb, durch den die horizontale Ziellinie parallel gehoben oder gesenkt wird, befindet sich handlich am Okularende des Nivelliers. Die Parallelversetzung wird an einem hellen Glasmassstab bequem über ein Okular direkt auf 0,1 mm digital abgelesen und auf 0,01 mm geschätzt. Der Glasmassstab ist im Gegensatz zu der oft üblichen Teilung einer Metalltrommel ermüdungsfrei abzulesen und kann für jedes Auge scharfgestellt werden. Mit dem Keilfaden lässt sich der Teilstrich einer Invarlatte mit hoher Genauigkeit einstellen.
Ablesegenauigkeit0,1 mm
Ablesung durch Schätzung0,01 mm
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